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- 长寿命产品在小子样缺失数据下的Bayes可靠性增长分析
- 作者： 程皖民 冯静 周经伦 孙权 来源： 模糊系统与数学 年份： 2006 文献类型 ： 期刊 关键词： 非齐次Poisson过程 Bayes方法 长寿命产品 小子样缺失数据 可靠性增长
- 描述： 在长寿命产品的可靠性增长试验过程中,由于人员、观测设备或其他方面的原因,可能会造成某些试验数据丢失或未观测到的现象。对这类小子样变总体缺失数据情形,提出了Bayes可靠性增长分析方法。首先利用Box-Tiao技术构造先验分布,然后利用非齐次Poisson过程原理和缺失数据的产生机制,得到可靠性增长缺失数据的似然函数,再用Bayes统计推断方法得到产品各研制阶段结束时的可靠性水平,同时给出了缺失数据下增长模型的拟合优度检验方法。最后通过一个示例说明了该方法在工程上的应用。
- 长寿命产品退化试验方法研究
- 作者： 汤衍真 来源： 国防科学技术大学 年份： 2011 文献类型 ： 学位论文 关键词： 可靠性评估 长寿命产品 退化试验 验证信息 缩减样本 金属化膜脉冲电容器
- 描述： 基于性能退化的可靠性评估试验是解决高可靠性、长寿命产品寿命预测问题的重要手段,是近年来可靠性试验新的研究方向。随着科学和工程技术的发展,产品的失效机理日趋复杂,对于许多高可靠性、长寿命产品,通过截尾寿命试验或加速寿命试验已不能有效获取产品的失效寿命数据,因此,许多研究人员开始从产品的性能退化数据中提取寿命信息,以弥补高可靠性、长寿命产品可靠性评估过程中信息量不足的问题。然而,面对日新月异的现代科技与生产技术,许多现有的退化试验方法已不能有效满足某些高可靠性、长寿命产品的可靠性评估需求。本文以长寿命产品退化